La 2024 IEEE International Conference on Metrology for Archaeology and Cultural Heritage, METROARCHAEO, si terrĂ dal 7 al 9 ottobre a Valletta, Malta. La conferenza, organizzata dall’Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), si concentra sull’applicazione della metrologia, ovvero la scienza della misurazione, nel contesto dell’archeologia e del patrimonio culturale, riunendo esperti e ricercatori da diverse discipline per discutere e condividere metodologie, tecnologie, e strumenti innovativi utilizzati per la misurazione, l’analisi, la conservazione e la valorizzazione dei beni archeologici e culturali.
Melania Paturzo, Vito Pagliarulo e Massimo Rippa, insieme alla collega Claudia Daffara, organizzerano la Special Session #5, Non-destructive imaging and interferometric techniques for cultural heritage diagnostics and metrology.
https://www.metroarcheo.com/special-session-5
Uno dei punto cruciali per il patrimonio culturale è la conoscenza approfondita delle caratteristiche strutturali e materiali dell’opera d’arte per identificare lo stato effettivo di conservazione e prevenire fattori di rischio e di degrado. L’uso di tecniche ottiche, basate su metodi di imaging e interferometrici, anche in protocolli integrati, rappresenta attualmente una buona pratica per eseguire diagnosi non distruttive su diversi tipi di opere d’arte, a pieno campo e su diverse scale. I ricercatori della comunitĂ della scienza del patrimonio sono chiamati a sviluppare e ottimizzare nuove tecniche, strumentazioni portatili e protocolli di misurazione per la metrologia delle opere d’arte e diagnosi efficienti.
Lo scopo di questa sessione speciale è raccogliere contributi sugli ultimi risultati sperimentali riguardanti lo sviluppo e l’applicazione di tecniche di imaging ottico e interferometrico nella diagnostica del patrimonio culturale, includendo, ma non limitandosi, ai seguenti argomenti: tecniche interferometriche, metrologia laser speckle, imaging a infrarossi e termico, tecniche Thz, DSPI, shearografia, termografia, scansione 3D e fotogrammetria, imaging multimodale e multispettrale.
PAPER / ABSTRACT SUBMISSION DEADLINE
15 Giugno, 2024
PAPER / ABSTRACT ACCEPTANCE NOTIFICATION
15 Luglio, 2024
FINAL PAPER SUBMISSION DEADLINE
1° settembre, 2024